京西テクノスの製品について

Medalist x1149

Medalist x1149

バンダリースキャン試験の開発、評価がGUIで簡単にでき, テストカバリングが非常に良いツールです。

 x1149は、IEEE 1149.1バウンダリ・スキャン規格にフル準拠し、複数のバウンダリ・スキャン・デバイスを実装したPCBAの大部分がテストできます。
 さらに、革新的なCover-Extendテクノロジー(CET)を搭載しているので、IEEE 1149.1デバイスだけでなく、
 コネクタ、ソケット、IEEE 1149.1規格に準拠していないデバイスもテストができます。
 またAC結合バス・ラインに関するIEEE 1149.6規格もサポートしています。

【特徴】
  • インターコネクトテスト(バンダリースキャンIC間の試験)
  • CET テスト(VTEPセンサーを使用した非バンダリースキャンIC試験)
  • マルチチェーンをサポート
  • シリコンネールテスト(周辺ICの動作試験)
  • インシステム・プログラミング 
  • 電圧モニタリング