京西テクノスの製品について

Medalist i1000D

Medalist i1000D

民生用電子機器基板検査に最適なインサーキット・テストシステム

【特徴】
  • 新しいデジタル機能対応
    1. Medalist i1000D の性能がさらに向上し、アナログのみのICT からデジタル機能が対応できるようになりました。
    2. デジタルPCF/VCL ライブラリ・ベースのテスト、バウンダリ・スキャン、I2C/SPI シリアル・プログラミング
  • カバーエクステンドテクノロジー(CET)対応
    1. 新機能としてバンダリースキャンとVTEPを組み合わせたCET技術により物理的なプローブアクセスなしで、VTEP テストを実行できます。
    2. プリント基板上のテスト・ポイント数を減少できます。
  • VTEP2.0によるテスト・カバレッジの向上
【仕様】
システム仕様  
最大ノード数 3456(ピン・カード:最大27枚)
アナログ ピン・カード Un-mux 128チャンネル/枚
デジタル ピン・カード Un-mux 64チャンネル/枚  
テスト項目 内容
オープン/ショート・テスト ショート・ピン・グループの吸い上げ方式
アナログ・インサーキット・テスト 6線式測定
アナログ・ガーディング・ポイント数 10
ベクターレス・テスト技術 VTEP v2.0
・BGA程度までのIC/コネクタ/ソケットの足浮き検査 VTEP
・マイクロBGAの足浮き検査 iVTEP
カバーエクステンドテクノロジー CET
・BGA程度までのIC/コネクタ/ソケットの足浮き検査 Yes
・マイクロBGAの足浮き検査 Yes
シリアル・データ・バス・テスト I2C. SPIプログラミング機能
Boundary Scanテスト Yes
DIGITAL テスト Yes
周波数測定 Yes
AC/DC電圧測定 Yes
ツール 内容
ファースト・バス歩留まり(FPY)レポート Yes
部品レベル・テスト・カバレッジ・レポート Yes
歩留まり改善テスト Yes
テスト・アクセス改善ツール Medalist Bead Probe技術
パネル・テスト Yes
リレー・レベル診断ツール Yes
SPC品質改善ツール Yes